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E+H創新的界面測量技術


面對不同的界面測量需求,選用合適的測量原理

在連續和動態過程工藝中,高精度界面測量十分重要。液位總高度是始終保持不變?還是不斷變化?如果液位高度變化,那么變動的范圍有多大呢?進行界面測量時,液位總高度是其中的一個測量值嗎?在測量過程中會出現乳化層嗎?
上述問題直接關系正確的儀表選型。
我們為您詳細介紹各種測量原理的適用范圍、物理局限性和調試方法。我們的產品包括導波雷達物位儀、多參數導波雷達物位儀、電容物位儀或放射線物位儀,為您的應用提供技術支持。
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根據不同揭秘測量需求,選擇合適的測量原理
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界面測量方案

優勢

  • 穩定的產品質量、工廠安全性和經濟效率是任何測量的關鍵。我們為您提供Levelflex 導波雷達物位儀、Levelflex多參數導波雷達物位儀、Liquicap 電容物位儀和 Gammapilot 放射線物位儀,共四種界面測量方法。

  • 導波雷達物位儀:同時測量界面高度和液位高度

  • 多參數導波雷達物位儀:在含乳化層的應用中同時安全輸出液位和界面信號

  • 電容物位儀:經實踐驗證的成熟界面測量原理

  • 放射線物位儀:滿足多層界面測量的需求

 

對于界面測量,測量精度是安全控制的先決條件。測量點的可靠性和過程安全對于任意工廠運作都是至關重要的。Endress+Hauser 是全球物位測量儀表的市場領導者,擁有豐富的從業經驗,涵蓋從設計、調試到維護,以及工廠管理:我們是您的得力合作伙伴。

同機械式系統相比,Endress+Hauser為用戶提供低維護需求的儀表和正確的界面測量解決方案,幫助您優化運營成本。

在設計階段,我們的工具幫助您完成測量點選型;您可以在現場或中控室中,簡單便捷的通過引導菜單完成儀表調試。

 


E+H創新的界面測量技術系列產品

  • Levelflex FMP55界面測量儀
  • Liquicap FMI51是全絕緣桿式探頭
  • Gammapilot FMG60一體化變送器
  • Levelflex FMP51導波雷達
 
詳細了解E+H創新的界面測量技術系列產品請與我們聯系。

E+H全系列產品有售,如需選型或了解更多詳情請咨詢客服:快速詢價 快速詢價