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E+H創新的界面測量技術
面對不同的界面測量需求，選用合適的測量原理
在連續和動態過程工藝中，高精度界面測量十分重要。液位總高度是始終保持不變？還是不斷變化？如果液位高度變化，那么變動的范圍有多大呢？進行界面測量時，液位總高度是其中的一個測量值嗎？在測量過程中會出現乳化層嗎？
上述問題直接關系正確的儀表選型。
我們為您詳細介紹各種測量原理的適用范圍、物理局限性和調試方法。我們的產品包括導波雷達物位儀、多參數導波雷達物位儀、電容物位儀或放射線物位儀，為您的應用提供技術支持。
根據不同揭秘測量需求，選擇合適的測量原理
界面測量方案
優勢
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穩定的產品質量、工廠安全性和經濟效率是任何測量的關鍵。我們為您提供Levelflex 導波雷達物位儀、Levelflex多參數導波雷達物位儀、Liquicap 電容物位儀和 Gammapilot 放射線物位儀，共四種界面測量方法。
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導波雷達物位儀：同時測量界面高度和液位高度
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多參數導波雷達物位儀：在含乳化層的應用中同時安全輸出液位和界面信號
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電容物位儀：經實踐驗證的成熟界面測量原理
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放射線物位儀：滿足多層界面測量的需求
對于界面測量，測量精度是安全控制的先決條件。測量點的可靠性和過程安全對于任意工廠運作都是至關重要的。Endress+Hauser 是全球物位測量儀表的市場領導者，擁有豐富的從業經驗，涵蓋從設計、調試到維護，以及工廠管理：我們是您的得力合作伙伴。
同機械式系統相比，Endress+Hauser為用戶提供低維護需求的儀表和正確的界面測量解決方案，幫助您優化運營成本。
在設計階段，我們的工具幫助您完成測量點選型；您可以在現場或中控室中，簡單便捷的通過引導菜單完成儀表調試。
E+H創新的界面測量技術系列產品
- Levelflex FMP55界面測量儀
- Liquicap FMI51是全絕緣桿式探頭
- Gammapilot FMG60一體化變送器
- Levelflex FMP51導波雷達
詳細了解E+H創新的界面測量技術系列產品請與我們聯系。
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E+H全系列產品有售，如需選型或了解更多詳情請咨詢客服： |